单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统
知识产权简介
衍射表征技术作为一种重要的无损物质结构表征手段，包含X射线衍射、中子衍射。根据不同入射粒子穿透深度的差异性，可以对材料表面或内部的微观信息进行表征，被广泛应用于材料微观组织的基础科学研究与大型工程试件的表征监测。 衍射表征技术的主要原理为布拉格定律，即当入射的中子束遇到晶体时，取向满足布拉格方程的晶面会使中子束发生衍射，产生衍射图案。通过分析衍射图案的信息，获得样品内部空间结构信息，从而测量材料的残余应力与织构信息。现阶段，对于二维面探测器的衍射数据，主要通过将二维衍射峰压缩成一维衍射峰与摇摆曲线，从而快速获得多晶材料的晶格应变与织构信息，但是该方法不利于对单晶样品中亚晶粒的晶粒取向与晶面间距同步进行定量研究。因此，急需一种针对单晶二维衍射数据的分析方法。本发明通过系统整合各类衍射二维数据压缩方法，获得单晶样品中各亚晶粒的一维整体衍射曲线、摇摆曲线与亚晶粒衍射曲线，融合函数拟合分析方法，解决对各亚晶粒衍射峰的分离、以及晶粒取向与晶面间距的同步定量分析的问题。